泰勒霍普森粗糙度儀SURTONIC DUO

SURTRONIC DUO 粗糙度儀儀器特點(diǎn)：

1. 泰勒霍普森粗糙度儀SURTRONIC DUO快速測(cè)量在儀器底端接觸工件瞬間，即可讀出測(cè)量值。全部操作步驟僅需簡(jiǎn)單教授即可

2. 泰勒霍普森粗糙度儀SURTRONIC DUO攜帶方便DUO可應(yīng)用于車間、實(shí)驗(yàn)室的測(cè)量。也可方便置于衣服口袋中或掛在腰間。

3. 經(jīng)外接口操作者可在距離被測(cè)工件1m處操作測(cè)量。

4. 校準(zhǔn)方便DUO具有自身校準(zhǔn)標(biāo)準(zhǔn)，可預(yù)設(shè)標(biāo)準(zhǔn)值，通過(guò)LCD顯示出來(lái)。

5. 測(cè)針保護(hù)不用時(shí)，設(shè)“park"位置可全面保護(hù)測(cè)針。

6. 人體工程學(xué)設(shè)計(jì)

泰勒霍普森粗糙度儀SURTRONIC DUO技術(shù)指標(biāo)：

1. Ra(算術(shù)平均偏差，以前稱為CLA或AA)

2. Rz(平均峰谷高度)

3. Rv(采樣長(zhǎng)度內(nèi)輪廓線以下的大高度)

4. Rp(采樣長(zhǎng)度內(nèi)輪廓線以上的大高度)

5. Rt(剖面大峰谷高度)

6. Rz1max(任何采樣長(zhǎng)度內(nèi)的大峰到谷)

7. 偏度-關(guān)于平均線的輪廓對(duì)稱度的測(cè)量

8. Rq(輪廓線與平均線的偏差值的均方根均方根(rms))

9. Rku(峰度-表面輪廓銳度的測(cè)量)